HYG-50KV擊穿(chuān)耐(nài)壓測試儀(yí)

二(èr)，一(yī)般使用(yòng)條件

海拔高(gāo)度(dù)：￡1000m

環境溫度：-5℃～＋40℃              

相對濕(shī)度(dù)：<90％

zui大日溫差：25℃

使用環(huán)境：室內

無導(dǎo)電(diàn)塵(chén)埃

無(wú)火災(zāi)及爆(bào)炸危險

不(bù)含有腐蝕(shí)金屬和絕緣(yuán)的氣體存(cún)在(zài)

電源電(diàn)壓的(dí)波形為(wéi)實(shí)際(jì)正(zhèng)弦波,波形畸變率<5%

HYG-50KV擊(jī)穿耐(nài)壓測(cè)試(shì)儀(yí)

三，遵循標準(zhǔn)

執(zhí)行(háng)ANSI D149標(biāo)準，GBT_1408.1-2006標(biāo)準

以(yǐ)下(xià)是(shì)ANSI D149標準

12. 步(bù)驟

注釋(shì)2—注意(yì)：在(zài)進(jìn)行任何測試之(zhī)前(qián)請先(xiān)閱讀(dú)第(dì)七部分。

12.1 施加電(diàn)壓(yā)的(dí)方(fāng)法(fǎ)

12.1.1 方(fāng)法A，短(duǎn)時間測試—在圖一(yī)所給(gěi)出的一種(zhǒng)比率(shuài)的條件(jiàn)下(xià)，在測試電(diàn)極(jí)上(shàng)加上(shàng)相同(tóng)的電壓，從(cóng)0開(kāi)始(shǐ)直到(dào)擊穿發生。在沒有(yǒu)其(qí)他方法(fǎ)的(dí)時(shí)候使用(yòng)這(zhè)種(zhǒng)短時間測試方法。

12.1.1.1 當開始建立一個速率，為了(liǎo)讓(ràng)其能被(bèi)一(yī)個新的規則(zé)所包(bāo)含，應選擇一個速率，使其對(duì)於一係列的樣本(běn)，能使擊穿發(fā)生的平(píng)均(jūn)時間在(zài)10到(dào)20秒之(zhī)間。可能(néng)需要(yào)預先進行(háng)一(yī)至(zhì)兩(liǎng)組測(cè)試來確(què)定zui合適的(dí)上升(shēng)速(sù)率(shuài)。對於(yú)大多數(shù)材料而言(yán)，通常(cháng)使用(yòng)500V/s 。

12.1.1.2 如果說明文(wén)件這(zhè)種(zhǒng)測(cè)試在一(yī)個(gè)給定的(dí)上升速率(shuài)，那(nà)麼必需(xū)一直(zhí)使用這個(gè)給定(dìng)的值，不(bù)論是否有平均(jūn)擊穿時間(jiān)偶然(rán)出(chū)現(xiàn)在10至(zhì)20秒(miǎo)的(dí)範圍(wéi)之外。如(rú)有(yǒu)這(zhè)種(zhǒng)偶(ǒu)然(rán)情況，則需要(yào)將(jiāng)其(qí)記錄(lù)在報告中(zhōng)。

12.1.1.3 在(zài)進行(háng)一係列的比對(duì)不(bù)同(tóng)材料(liào)的測(cè)試中(zhōng)，優先(xiān)使用相同且能使(shǐ)這些材料(liào)的擊(jī)穿時(shí)間均在(zài)10秒至(zhì)20秒(miǎo)之間的電壓上升速率。如(rú)果擊穿(chuān)時間不(bù)能滿足(zú)前述範圍，則(zé)需要將(jiāng)其記(jì)錄(lù)在(zài)報告(gào)中。                                 

                     圖1 短(duǎn)時間(jiān)測(cè)試的電壓曲(qū)綫

          電(diàn)壓上升速率（V/S）±20%

                       100

                       200

                       500

                       1000

                       2000

                       5000

         Vbd為(wéi)擊穿電壓，tbd為擊穿發(fā)生的時(shí)間(jiān)

12.1.2 方法B，逐(zhú)級測試(shì)—在測試電(diàn)極上(shàng)施(shī)加預(yù)啟(qǐ)動電壓，並且逐步提升(shēng)，每一測試電(diàn)壓需(xū)持續一(yī)段(duàn)時間(jiān)，如圖2所示，直(zhí)至(zhì)擊穿發(fā)生。

12.1.2.1 在(zài)圖(tú)2的列表(biǎo)的中選擇初始電(diàn)壓，是zui接近(jìn)短時間測試的實(shí)驗擊穿電壓或(huò)是預期擊穿(chuān)電(diàn)壓的(dí)50%的(dí)值。

12.1.2.2 如果選擇的初始(shǐ)電壓(yā)不同於(yú)圖2中(zhōng)列(liè)出(chū)的(dí)值(zhí)，那(nà)麼建議(yì)每一階(jiē)段電壓的上(shàng)升值應當比選定(dìng)的初始(shǐ)電壓低10% 。

12.1.2.3 在(zài)不(bù)超過6.1.3 中(zhōng)所(suǒ)允(yǔn)許的電(diàn)壓峰值的情況下(xià)，從(cóng)0開(kāi)始並(bìng)以zui快(kuài)速率(shuài)上升(shēng)電壓至需(xū)要的(dí)值，用(yòng)這(zhè)種方法(fǎ)施加(jiā)初始電壓(yā)。同(tóng)樣的要求也被(bèi)應(yīng)用於每一階(jiē)段電(diàn)壓上(shàng)升(shēng)的過程中。在(zài)初(chū)始(shǐ)階(jiē)段(duàn)後，電(diàn)壓(yā)上升至(zhì)下一(yī)階段所花費(fèi)的時間應(yīng)當被計為下一(yī)階段的一部分(fēn)。

12.1.2.4 如果擊穿(chuān)發(fā)生(shēng)在(zài)電壓(yā)上升(shēng)至下(xià)一階(jiē)段(duàn)的過程(chéng)中(zhōng)，這個樣本(běn)被描述為已經滿足介電耐壓(yā)，Vws等(děng)於已經完(wán)成(chéng)的這一(yī)階段的電壓(yā)。如果擊(jī)穿(chuān)發生在任何(hé)一個電(diàn)壓(yā)穩定(dìng)的(dí)階段(duàn)結(jié)束之前(qián)，這個樣本的(dí)介電耐壓(yā)被定(dìng)為上(shàng)一個(gè)階(jiē)段(duàn)的(dí)電(diàn)壓。擊(jī)穿電壓(yā)被用(yòng)來計算耐電(diàn)壓強(qiáng)度(dù)。介(jiè)質(zhì)耐壓強度(dù)由(yóu)材料(liào)厚度(dù)和介(jiè)質(zhì)耐壓來(lái)計(jì)算。（見(jiàn)圖2） 

12.1.2.5 期(qī)望的(dí)擊(jī)穿(chuān)發生在(zài)第(dì)4至(zhì)第10階(jiē)段(duàn)，但是不(bù)少(shǎo)於120秒(miǎo)。如果小組(zǔ)中多於(yú)1個樣(yàng)本不滿足(zú)這個條(tiáo)件，擊穿發生(shēng)在第3階段或(huò)是更早，又或(huò)是少(shǎo)於120秒，無論哪個較(jiào)大(dà)，這個(gè)測試都需要(yào)重(zhòng)新(xīn)選擇一(yī)個較(jiào)低的初(chū)始(shǐ)電(diàn)壓(yā)進(jìn)行(háng)測試。如果(guǒ)擊(jī)穿(chuān)沒(méi)有(yǒu)發生在第12階段前或者(zhě)是(shì)大於(yú)了720秒，則應(yīng)當提高初(chū)始(shǐ)電壓。

12.1.2.6 記錄下初始電壓，每一階段(duàn)的電(diàn)壓，擊(jī)穿電壓，以(yǐ)及擊穿(chuān)電(diàn)壓的持續(xù)時間。如(rú)果擊穿(chuān)發生(shēng)在電壓上升(shēng)至(zhì)初(chū)始電(diàn)壓的過程中(zhōng)，擊穿時間(jiān)應被記(jì)為0.

12.1.2.7 對(duì)於(yú)每(měi)一階段電(diàn)壓(yā)的持續(xù)時間可(kě)能(néng)是(shì)被(bèi)的，取決(jué)於測試的目的(dí)。一般使用的(dí)為20s和(hé)300S（5 min）。為了(liǎo)研究目(mù)標，也(yě)有可(kě)能對於一(yī)個(gè)給(gěi)定(dìng)的材(cái)料(liào)存(cún)在(zài)一(yī)個(gè)以(yǐ)上(shàng)的(dí)時(shí)間(jiān)間(jiān)隔。

                   圖2 逐(zhú)級(jí)測(cè)試

          Vbd為擊穿電壓(yā)，Vws為(wéi)介質耐壓

          Preferred starting voltage 為預啟動電壓

          Step voltage 階段電(diàn)壓(yā)

          Increment 增(zēng)量 constraints 約束（條件(jiàn)）

          Unless constraints cannot be met 除(chú)非不(bù)能滿足(zú)約束(shù)條件(jiàn)

          Alternate step times 可(kě)選的階(jiē)段(duàn)持續時間(jiān)

12.1.3 方(fāng)法(fǎ)C，低(dī)電(diàn)壓上升速(sù)率測試(shì)方法—依據(jù)圖3所示速(sù)率(shuài)施加(jiā)電壓在(zài)電(diàn)極上(shàng)直(zhí)至擊穿(chuān)發生。

12.1.3.1 按(àn)照12.1.1中(zhōng)的(dí)短(duǎn)時間測試的方(fāng)法選擇(zé)初(chū)始(shǐ)電壓。初(chū)始電(diàn)壓(yā)應當達(dá)到(dào)12.1.2.3中(zhōng)的(dí)要(yào)求(qiú)。

12.1.3.2 使用這(zhè)個(gè)電(diàn)壓上升速(sù)率使電(diàn)壓(yā)從初始值上升，初(chū)始(shǐ)值由(yóu)此測試(shì)方(fāng)法給出的相關(guān)文件(jiàn)中。一般這(zhè)個速(sù)率被(bèi)選(xuǎn)中用於估算一個(gè)逐(zhú)級(jí)測試的(dí)平均速(sù)率。

12.1.3.3 如果(guǒ)在(zài)一(yī)係列(liè)樣本中(zhōng)有超(chāo)過一(yī)個(gè)樣本(běn)的擊穿(chuān)時(shí)間少於120S，減少(shǎo)初(chū)始電壓(yā)或(huò)是(shì)電壓上升速(sù)率。

12.1.3.4 如果(guǒ)一(yī)係列(liè)樣本(běn)中有(yǒu)超過一個(gè)樣本的(dí)擊穿電壓少(shǎo)於初始(shǐ)電(diàn)壓(yā)的1.5倍，減少初始(shǐ)電(diàn)壓(yā)。如果(guǒ)擊穿(chuān)反(fǎn)復發生在初始(shǐ)電(diàn)壓(yā)的(dí)2.5倍值以上(shàng)（且(qiě)超過120s），則提高初始電(diàn)壓(yā)。

                       圖(tú)3 低電壓上升(shēng)速率測試

12.2 擊(jī)穿標(biāo)準—電介質失(shī)效(xiào)或(huò)是電介質(zhì)擊(jī)穿（由 Terminology D 1711 定義）包(bāo)含了(liǎo)電導係數(shù)的(dí)增(zēng)加(jiā)，限製可維持的電場(cháng)。這(zhè)種(zhǒng)現象已(yǐ)經(jīng)被廣泛(fàn)的證實，通(tōng)過(guò)在測(cè)試中(zhōng)試(shì)驗樣(yàng)本(běn)層(céng)的(dí)突(tū)然(rán)地(dì)可見且可(kě)聽(tīng)到的斷裂，導(dǎo)致在被擊穿(chuān)的部分(fēn)出(chū)現可(kě)見(jiàn)的穿孔和(hé)材(cái)料的(dí)分解。這(zhè)種(zhǒng)形式(shì)的擊穿是(shì)普遍(biàn)不可(kě)逆的。重復的施加(jiā)電(diàn)壓有些時候會導(dǎo)致低(dī)電壓時電介質失效（有(yǒu)時不可(kě)估(gū)量的低(dī)），通(tōng)常(cháng)伴(bàn)隨在(zài)擊(jī)穿部位額外的(dí)損傷。這種(zhǒng)重復的(dí)施加電(diàn)壓可(kě)能(néng)被用(yòng)於(yú)給出擊穿的正麵(miàn)的證據並(bìng)使得擊(jī)穿(chuān)路徑更加的清晰可見。

12.2.1 泄(xiè)露(lòu)電流(liú)的(dí)突(tū)然上升可能導(dǎo)致電(diàn)壓(yā)源(yuán)跳閘伴隨可見的(dí)樣本(běn)的(dí)分(fēn)解。這(zhè)種故(gù)障通常(cháng)發(fā)生(shēng)在(zài)低(dī)電壓上升(shēng)速(sù)率測(cè)試中，當溫度上升時。這(zhè)種情(qíng)況(kuàng)可(kě)能是(shì)可逆轉(zhuǎn)的，如果(guǒ)樣本在進(jìn)行(háng)再次(cì)施(shī)加(jiā)電壓前(qián)被允(yǔn)許(xǔ)冷卻(què)至(zhì)它(tā)的(dí)原(yuán)始測(cè)試(shì)溫(wēn)度(dù)，材(cái)料(liào)的電介(jiè)質(zhì)強度就可能恢復。對於(yú)這(zhè)種故障，電(diàn)壓(yā)源(yuán)一(yī)定會在相對低的(dí)電(diàn)壓迅(xùn)速(sù)跳閘(zhá)。

12.2.2 電壓(yā)源(yuán)跳閘的原因有可能為(wéi)以下幾(jī)種：閃(shǎn)絡(luò)；部(bù)分放(fàng)電(diàn)；高電容樣本的無功電(diàn)流(liú)；斷(duàn)路器故障。這種(zhǒng)實驗中斷不(bù)構成(chéng)擊穿（除了(liǎo)閃(shǎn)絡實(shí)驗）並且(qiě)不被承(chéng)認是一(yī)個(gè)符(fú)合(hé)要(yào)求(qiú)的(dí)測試。

12.2.3 如果斷(duàn)路器(qì)被設置為一個*的電(diàn)流(liú)，或(huò)是斷(duàn)路器(qì)故(gù)障，可能會(huì)發生樣本的(dí)過度燃燒(shāo)。

12.3 測試次(cì)數—除非對特定(dìng)的材(cái)料有特(tè)殊的要(yào)求，否則進行(háng)5次擊穿測試。